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晶圆map图

时间:2024-09-19 01:33:51作者:大毛

五毛美图【晶圆map图】包含晶圆测试map转换(tsk/tel/pt301),jmp软件中的晶圆图( wafer map)分析,基于堆叠降噪自编码器的神经-符号模型及在晶圆表面缺陷识别,jmp软件中的晶圆图wafermap分析等图片的集合。
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某知名半导体公司用来分析生产工艺数据的晶圆图wafer map

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什么是wat(晶圆接受测试,wafer acceptance test)? - 知乎

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对于这种芯片,台积电公布的平均产率约为 80%,每片晶圆的产率峰值超过

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jmp软件中的晶圆图( wafer map)分析

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晶圆测试map转换(tsk/tel/pt301)

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