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晶圆测试探针卡

时间:2024-10-19 05:08:44作者:大毛

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乌镇实验室展示的晶圆测试中的探针卡(央广网记者 尚天宇 摄)

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晶圆级封装芯片测试探针卡.png

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思达科技与晶圆厂合作开发微间距mems探针卡用于prebumped晶圆测试

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探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机

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道格特独家揭秘晶圆测试核心耗材探针卡的国产化之路

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